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干货分享丨BGA、LGA的Void(空洞)分析改善

2023-04-06 13:42:56 行业新闻 4323

干货分享丨BGA、LGA的Void(空洞)分析改善

转自:SMT之家

 

背景目的

1-1背景:

随着实装的高密度化的推进,元件特别是IC、端子等电极的构造变化显著。

根据电极的变化,以前的焊接技朮已经不能正确的焊接元件了,其中最有代表性的是采用LGA、BGA的IC工厂。

    LGA、BGA等CHIP元件由开放型焊接向密闭型焊接变化。

    LGA、BGA-IC最大的问题是在接合部发生的“Void”。

 

1-2目的:

     1)  LGA、BGA-IC不产生Void焊接技朮成为实用化。

     2)  能够在高密度实装基板、大型主板上没有Void进行实装,提高接合的可靠性。

 

LGA和BGA的VOID发生原因:

为防止LGA、BGA的void发生,解开void发生的原理相当重要。

为防止LGA、BGA的void发生是受锡膏的熔融的变化影响的。

解开这些变化过程,就可以提出void的对策。

 

发生原理:

       1、因为焊锡表面张力,焊锡向中心部集中。

       2、因为表面张力void密闭

       3、要排除void抑制焊锡表面张力是很必要的。

 

模拟回流炉中LGA Solder Past的变化

为了解开实际的LGA、BGA的焊接有必要做模拟。

 

Void抑制方法的检验

原因分析的结果,为了防止BGA、LGA发生Void,要推进以下工作:

1、Reflow Profile 锡膏助焊剂的设计。

2、锡膏印刷。

3、 Reflow Profile 的3项目须同时改善,一个一个改善没有效果。

 

Void抑制方法的检验

 

LGA的Reflow Profile和void发生量的检验

Reflow Profile的void发生量的检验按照下面3项记录条件执行﹕1、公司内一般使用的Profile;2、改善的Profile;3、考虑现在生产的Profile。

 

LGA的锡膏和void的发生量的验証

做LGA的solder paste的void发生量试验

 

LGA的solder paste和void发生量的验証

结论:void对策品的VL取得良好的结果,比较符合密闭型的焊接, FLUX的变化稳定。solder paste(粒度、FLUX)的使用重要。

 

做LGA的solder paste印刷厚130um和150um瓦斯排出和印刷形状的有无条件。

 

LGA的solder paste印刷量和void发生的检証

结论 :因为印刷厚度引起的void发生量很少。 从FLUX发生的瓦斯被排出。缺口印刷效果大。要有充足的锡膏印刷量确保能够排出瓦斯的印刷形状。

 

BGA的Void不良零技朮

按照以前的观念,表面实装技朮上还不能实现Void为零,为了实现Void零不良需要满足以下条件,在实际生产上要严密考虑元件电极和PAD间锡膏印刷,装载元件以及Reflow等条件。

 

LGA、BGA的void零不良技朮

(1)元件电极和基板Pad的Space(容积)。根据电极的种类电极size和pad size不同,要对一个一个元件分别测量。要注意元件有平面电极和凹面电极。

(2) Space(容积)熔融后必要的焊锡量(焊锡容积)的设计 熔融后根据锡膏的种类不同大约是印刷焊锡量的50-60%.

(3)确保必要的焊锡量,防止void发生,要设计锡膏的印刷厚度和印刷形状(钢网设计)。

(4)使用锡膏的选定。防止void的发生,焊锡的size、活性剂、溶剂的种类。推荐值:焊锡粒子:25-45um,活性剂多,溶剂:标准高沸点低。

(5)Reflow Profile的设计。参考使用锡膏推荐值。

 

零件低面Pad-Viod零技朮

熔融后锡膏厚度测定

现在 ﹕                          

1﹑Pad size :钢网开口部1﹕1;

2﹑钢网0.127。

 

 

void対策钢网开口例(1)

 

void対策钢网开口例(2)

 

Void对策钢网开口例

 

BUMP变形的推定原理

 

Reflow中BUMP变形的过程

 

1、2次面实装后的LGA刮刀中BUMP变形

 

在同一视角下K2-V和VL的REFLOW状态(X线)

 

 

 

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